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Microscopía
electrónica
El
desarrollo de la microscopía óptica
o de luz fue evolucionando de manera importante
desde su aparición a principios del
siglo XVII, y manteniéndose como pilar
fundamental del conocimiento de aquello invisible
a la vista del ser humano; sin embargo, su
límite de
resolución de aproximadamente un micrómetro
10-6 m, ya no fue posible mejorarlo debido al
factor limitante de la longitud de onda de la
luz (450-640 nm).
Fue
hasta el año de 1931 cuando se alcanzó
a obtener, con la ayuda de otra generación
de microscopios, una resolución 1000 veces
mayor que la de un microscopio óptico; a
ésta generación se le conoce como
Microscopía electrónica y fueron los
físicos Max Knoll y Ernst Ruska en Alemania,
quienes dieron a conocer el Microscopio electrónico
de transmisión (TEM, por sus siglas en inglés).
Posteriormente, en el año 1938, Manfred von
Ardenne construyó el primer Microscopio electrónico
de barrido (SEM, por sus siglas en inglés)
y comercialmente distribuido hasta 1965 por la compañía
británica, Cambrige Instruments.
Fig.
4.- Ruska y Knoll construyendo el primer TEM;
TEM de emisión de campo; SEM de bajo
vacío moderno. Se muestran tres fotografías,
en la primera, Ruska y Knoll construyendo el
primer microscopio electrónico de transmisión;
en la segunda, un moderno microscopio electrónico
de transmisión de emisión de campo;
y finalmente un microscopio electrónico
de barrido de bajo vacío (Freundlich,
1994).
El desarrollo de la microscopía electrónica
permitió, entre otras cosas, alcanzar
el nivel de resolución espacial que muchos
investigadores de diversas disciplinas demandaba,
y fundar una rama de investigación que
a pesar de ser relativamente joven, ha avanzado
de una manera vertiginosa en la ciencia contemporánea.
Esta técnica se ha convertido en una
fuente inagotable de información y desarrollo,
no solo por la resolución alcanzada,
sino también por las capacidades de análisis
de las técnicas asociadas a un microscopio
electrónico moderno, como son la espectroscopía
por dispersión de energía de rayos
X (EDS de sus siglas en inglés “Energy
Dispersive Spectroscopy”), la espectroscopia
por dispersión de longitud de onda (WDS,
del inglés “Wavelenght Dispersive
Spectroscopy”) y la espectroscopia
Auger, entre otras. Por su capacidad de proporcionar
información morfológica, topográfica,
química, cristalina, eléctrica
y magnética de los materiales, la han
convertido en herramientas indispensables en
el dominio de la física del estado sólido,
ciencia de materiales, electrónica, polímeros,
metales, textiles, biología, medicina,
etc. El futuro de esta técnica es muy
prometedor debido a su desarrollo tecnológico
en la última década del siglo
XX, alcanzando un poder de resolución
de hasta 0.1 nm en un TEM y 1.5 nm en un SEM,
éste último con la posibilidad
de trabajar a presión controlada, útil
en la observación de muestras húmedas
(Díaz G y Arenas J., 2003).
La
diferencia principal entre microscopia electrónica
y óptica es el uso de un haz de electrones
en lugar de luz para enfocar la muestra, consiguiendo
aumentos de hasta dos millones de veces (106 X).
Su diseño se basa en dos principios físicos,
uno es el de dualidad onda-partícula predicha
por Louis de Broglie en 1924, quien dedujo una ecuación
(? = h/p; h es la constante de Planck) que permite
calcular la longitud de onda (?) esperada para una
partícula de masa m con momentum p (p=mv).
En microscopía electrónica m representa
la masa de un electrón y ? adquiere valores
en el intervalo 0.388 – 0.00193 nm, dependiendo
del voltaje de aceleración de los electrones.
El
otro principio físico en el que se basa el
diseño de un microscopio electrónico
es el de la ley de Lorentz (F=
e (vxB), lo cual
indica para este caso, que un electrón viajando
con velocidad v dentro de un campo magnético
B, experimenta una fuerza que hace
que el electrón describa una trayectoria
helicoidal alrededor de las líneas del B.
De esta manera un microscopio electrónico
está constituido por lentes electrostáticas
y electromagnéticas que desempeñan
el mismo papel que una lente de vidrio para el caso
de un microscopio de luz (Yacamán y Reyes,
1995).
En
la figura 5 se muestra el diseño óptico
de un TEM; una imagen de alta resolución
de una interfase bimetálica Ni-Pt y un patrón
de difracción de un material cristalino.
Fig.
5. Diseño óptico de un TEM; imagen
con resolución atómica de una aleación
Ni-Pt y un patrón de difracción
Fig.
6. Óptica de un SEM, imagen del ojo de una
mosca obtenida a 450X y de microorganismos en papel
antiguo a 2000X. Se presenta la óptica de
un SEM y dos imágenes típicas obtenidas
por esta técnica del ojo de una mosca y de
microorganismos en papel antiguo.
En
el área biológica, grandes descubrimientos
se han dado a conocer con el uso estos microscopios,
destacando los trabajos de Claude y Palade, quienes
en 1974 recibieron el Premio Nobel de Biología
por sus estudios celulares. Con este tipo de microscopio
fueron observados por primera vez, el ADN y diferentes
tipos de virus.
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